模塊性能:
可以同時實現樣品表面形貌掃描和材料相關熱學性能測試
1) 溫度;
2) 溫度梯度變化曲線;
3) 定性熱導率;
4) 相變溫度;
5) 定性熱容量;
模塊優勢:
1)高性價比,能實現熱學掃描及熱學性質測試的功能,價格僅為其為同類產品的一半;
2)精細測量,能達到20nm區域測溫;
3)耐高溫,針尖在700℃高溫下也不易變形;
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詳細信息 hermal probe system熱掃描探針系統,聯用AFM顯微鏡,既能實現AFM探針常規輕敲和接觸掃描,獲得高清晰度的圖像,同時能夠實現樣品熱學性質的探測。尤其適用于高分子材料組分熱學性質評估。
模塊性能: 可以同時實現樣品表面形貌掃描和材料相關熱學性能測試 1) 溫度; 2) 溫度梯度變化曲線; 3) 定性熱導率; 4) 相變溫度; 5) 定性熱容量;
模塊優勢: 1)高性價比,能實現熱學掃描及熱學性質測試的功能,價格僅為其為同類產品的一半; 2)精細測量,能達到20nm區域測溫; 3)耐高溫,針尖在700℃高溫下也不易變形; |