Cascade Microtech 的 M150測量平臺是一款結構簡單、高精確度、多功能、及高性價比的150mm基準的探針臺，解決了一系列的測量難題。該探針臺采用了一種模塊化設計，提供了眾多的配置可能性，旨在滿足諸如單切晶片至 150mm 晶圓、模塊、印刷電路板組件和微流體芯片等多種器件的精密電測量的需要。M150 可提供三種預配置的探針臺，均針對您的應用及預算而優化。您可以通過確定最適合自己當前需要的 M150 模塊來設計特有的探針臺，或對自己現用的 M150 進行升級以滿足未來的測量需求。

    優越的應用靈活性使得M150能滿足DC和RF測量、器件和晶圓表征測試（DWC）、失效分析（FA）、亞微米探測、MEMS和光學工程測量；M150也能用作一個靈活的探頭卡，實現wafer級的可靠性應用（WLR），能同時配備多達20個探針座。

技術參數：

基座 基本尺寸 含升高板的尺寸 面積 Z軸可移動范圍 
標準平臺 675mm x 675mm 825mm x 675mm 1960 cm2 5.5mm 
多功能平臺 825mm x 675mm 847mm x 758mm 2700 cm2

X-Y-θ平臺 XY范圍 最小步長 θ范圍 晶圓范圍 
真空運行平臺 155mm x 155mm 3μm +/- 60° 70mm 
標準平臺 155mm x 155mm 2μm +45°(CCW) , - 90°(CW) 250mm 
快速運行平臺 155mm x 155mm 1μm +45°(CCW) , - 90°(CW) 275mm

DUT支架 卡盤 基底 平整度 三軸接頭 絕緣層 附加卡盤 
150mm卡盤 150mm真空卡盤 晶圓，陶瓷 ＜10μm Yes ＞100GΩ 2個獨立的卡盤，且還有一個附加卡盤 
PCB 150mm寬支架 PCB，移動裝置 NA NA NA NA

顯微鏡支架 移動范圍（XY） Z方向 最小步長 
臂式支架 ＞150mm x 150mm NA NA 
LAHS顯微鏡支架 150mm x 150mm 可選，最大為100mm 2μm

主要特點：

 1. 結構簡單、多功能；

2. 平臺配置可滿足DC、RF和亞微米測量；

3. 獨特的模塊化設計可根據客戶的需要配置和升級；

4. 量程大、可配探針配件；