黃金珠寶、牙科合金材料及其他稀有金屬的分析要求高精度，非破壞性而且測量點小。德國斯派克分析儀器公司最新推出的SPECTRO MIDEX™ X射線熒光能譜儀正是滿足了這一要求，可最迅速、準確地提供分析數據。

  SPECTRO MIDEX™光譜儀采用空冷、低能量X射線管和高分辨率的檢測系統，集準直、聚焦、樣品激發于一體，是功能強大的金屬分析儀SPECTRO MIDEX™適合分析體積很小的稀有金屬或面積較小的樣品。樣品室配有易于調節的樣品臺。通過20倍變焦攝像機可精確地確定測量位置。儀器配有計算機和專業化的軟件，使操作極為簡便。測量點直徑為0.7mm,樣品的總測量時間不超過100秒。在測定稀有金屬合金中的金含量時,樣品的測量精度為0.15%。SPECTRO MIDEX™也可滿足快速分析的需要，在2分鐘內可完成從鋁到鈾的所有數十種元素的分析。

SPECTRO MIDEX　光譜儀不僅僅適用于珠寶行業、貴金屬檢驗機構，海關商檢、造幣工業等，還可完成其它分析任務如：非破壞性檢查，貴金屬分選，電子線路及電氣元件的分析等。

技術規格
 

儀器操作簡便、直觀。可在原位進行有效的“失效分析”。

獨特性:

 

X射線管和檢測器系統獨特的幾何設計使其能夠分析以前無法觸及的樣品表面。如:環形樣品的內表面。

激發源
● Mo靶的X光管
● 風冷
● 最大功率：30W
● 最高電壓：50kV
● 測量點尺寸：0.7mm

樣品室
● 長：520 mm(20.5 '')
● 寬：310mm(12'')
● 高:160 mm(6.3'')
● 樣品放大成像系統
● 手動樣品臺或固定樣品用多軸向夾具
● 符合嚴格的ξ3 R?V(德國X射線標準)輻射防護標準

計算機
● 臺式Pentium™ 計算機
● Windows™操作系統
● 鍵盤和鼠標
● 顯示器
● 打印機

軟件
● 菜單式軟件，光譜儀參數調整和數據評估及計算

檢測器
● 電致冷（Peltier 冷卻）的Si漂移半導體計數器
● 以Mn Kα線，在測量計數率為1000脈沖計數時,能量分辨率為:FWHM<150 eV
● 微處理器控制的檢測器和讀出電路

其它規格
● 電壓:100 -127或，200-240V,50/60 Hz,2.6/1.0A
● 最大處尺寸:
長:540mm(21’’)
寬:420 mm(16.5’’)
高:560 mm(22’’)

底座尺寸:
長:540mm(21’’)
寬:360 mm(14’’)
重量:40kg (88 lbs.)